ESD測試等級分類簡介

ESD（Electrostatic Discharge，電靜電放電）測試是一種用于測試電子設備抗靜電干擾的測試方法。在電子芯片制造、生產(chǎn)及使用過程中，靜電會對芯片造成損傷，從而降低設備的性能，ESD測試則是為了檢測及驗證電子設備在可靠性及抗靜電方面是否達到標準。

ESD測試等級分類包括了不同的測試條件，接下來將分別介紹它們。

Human Body Mode（HBM）等級

HBM是較常用的ESD測試等級之一，是以人體靜電不放電電壓（通常為2000V-4000V）作為典型的干擾源。人們在使用電子設備時，通過觸摸或插拔等方式，會將自己體內(nèi)的靜電釋放到接口或連接器上，這個過程會對芯片造成損害，因此需要進行HBM測試。

Machine Model（MM）等級

MM測試等級是針對機器靜電放電的測試等級，模擬了靜電放電對芯片所造成的威脅。MM測試等級比HBM等級高，電壓通常為100V-400V左右，因此機器靜電放電對芯片的破壞性比人的體典型靜電放電弱許多。

Charged Device Model（CDM）等級

CDM測試等級則是一種模擬產(chǎn)品在制造及裝配過程中可能會積累電荷的靜態(tài)放電測試。不同于HBM及MM等級的電荷來源，CDM的電荷積累來自于制造過程中的摩擦等作用。CDM測試等級電壓范圍通常為1000V-2000V左右。

Transmission Line Pulse（TLP）等級

TLP測試等級則是一種模擬設備接收到雷擊等電磁脈沖干擾的測試等級。在TLP測試過程中，設備會受到一個正弦波狀的高壓電流波，并測量設備對此波波形的響應。TLP測試等級的電流通常很高，為2-10A，測試時間也比較短，為10-30ns。

Machine Handling Test（MHT）等級

MHT測試等級是一種模擬機器對芯片造成的物理傷害，例如機械振動和機器受沖擊的測試等級。在現(xiàn)實應用中，芯片需要承受各種緊急或異常情況，包括了產(chǎn)品運輸或意外跌落等情況。

Conclusion

在現(xiàn)代電子領域中，ESD測試是非常重要的一項工作，它能確保電子設備的安全性及可靠性。針對不同ESD測試等級，測試者可以選擇適當?shù)臏y試設備及方法，以確保產(chǎn)品在多種干擾情況下的穩(wěn)定性與可靠性。

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